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《北京交通大学》 2006年
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IP软核复用技术研究

邢强  
【摘要】: 随着半导体工艺的快速发展,基于IP核复用的SoC设计正逐渐成为集成电路设计的主流技术。作为IP核形式之一的IP软核,灵活性高,在IP核复用中有很大优势。然而,IP软核在实际应用中,存在很多挑战。使用高质量的IP软核,可以提高设计效率和设计质量,反之,可能导致设计失败。因此,对IP软核进行评估,判断IP软核的质量水平,为IP软核选择提供依据和便利,成为SoC设计的一项重要任务。 本文基于可复用设计方法学,以IP软核使用者的角度,着重分析IP软核质量问题,提出IP软核质量指标,研究IP软核质量评估流程和方法。本文首先根据IP软核现状,总结IP软核复用过程中可能存在的质量问题。依据现状和IP软核使用者的要求,分析优秀IP软核的质量特性,并提出IP软核质量指标。然后以质量指标为指导,将IP软核评估工作分为可用性和性能考查两个方面,评估内容主要包括:交付项考查、验证文件考查和软核性能评估。给出各项评估内容的考核依据和评估方法,主要包括交付项质量评估、验证文件质量评估和IP软核功耗估算的方法,并对IP软核验证平台的规范进行研究。最后以8051IP软核的FPGA应用为例,提出8051IP软核通用验证策略和性能评估方法。根据提出的IP软核质量指标和评估流程,完成C8051IP软核可用性和性能评估,并对C8051IP软核的验证平台进行部分改善工作。评估和改善的结果,为C8051IP软核的后续工作提供数据资料和便利性。
【学位授予单位】:北京交通大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2006
【分类号】:TN409

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【引证文献】
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【参考文献】
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【共引文献】
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【二级参考文献】
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