收藏本站
《哈尔滨工程大学》 2008年
收藏 | 手机打开
二维码
手机客户端打开本文

SoC测试资源优化方法研究

邵晶波  
【摘要】: 深亚微米工艺下IC规模和复杂度的日益增加,向SoC测试提出了严峻的挑战。现有的外部测试设备ATE在存储容量、测试通道数等测试资源方面满足不了测试需求,因而有必要研究SoC测试资源优化方法。本文分别从节省测试通道、ATE存储空间、减少测试时间的角度研究了SoC测试数据压缩、SoC测试调度以及低功耗SoC测试。本文的主要贡献为: 首先,提出了一种适用于SoC测试数据压缩的新方法。先将不同待测核对应测试集中的测试向量最大限度地重叠起来,形成一个重叠向量,然后对这个重叠向量进行变游程编码,进一步对测试向量进行压缩。由于测试应用时间与重叠向量的长度成正比,而重叠向量的长度要远小于原始测试向量长度的总和,从而减少了测试时间。实验结果显示,算法的最高测试压缩率为67.4%,最低值为39.5%,平均测试压缩率达到56%。最好情况下,测试数据被压缩了12.3倍。除了个别情况下算法的测试时间接近最优结果外,二级测试压缩方法的测试时间均少于已有算法。 其次,提出了基于测试响应复用的SoC测试数据压缩方法STC-TR和测试调度方法STS-HC。先对各个测试集进行预处理,通过预处理,用前一个核的测试响应压缩本待测核的测试激励,然后从本待测核的测试集中删掉与它前面核的测试响应相容的测试向量。在实际测试时,对于待测核的测试序列,除了最后一个核外,直接将与后一个核的测试激励相容的本待测核的测试响应作为后一个核的测试输入,对其余的测试重复上述操作。若前一个待测核的测试响应与所要施加的测试向量都不相容,则直接从ATE中取测试数据。硬件实现上只需几个二选一的多路选择器MUX,即可控制测试数据取自何处。给出了调整待测核测试顺序及与各个待测核对应的测试向量施加顺序的启发式算法,使测试效果接近最优。提出的方法不需要解码器。考虑功耗的核测试流水降低了测试应用时间。已有SoC测试调度方法的硬件开销较大,与之相比较,采用层次聚类分析的方法STS-HC解决基于测试响应复用的SoC测试调度,算法实现起来比较简单。实验结果表明,与经典的算法比较,本文的算法STS-HC的测试应用时间最少;本算法的测试压缩率平均值高达50%左右,与以往的算法是可比较的。值得一提的是,本文的方法分别将SoC基准电路p93791和p34932的故障覆盖率提高了1.32%和5.08%。可见,算法STC-TR不但没有降低各测试集的故障覆盖率,反而提高了一些测试集的故障覆盖率。 再次,提出了基于进程代数的SoC测试调度方法。为了降低测试应用时间,可采用测试流水,然而测试过程中产生的功耗可能会毁坏待测系统,鉴于这一点,流水测试时应将测试功耗控制在允许范围之内。进程代数是处理并发进程的有力工具,以进程代数为理论基础,给出了并行测试进程的时间标记变迁系统模型(TLTS),并形成了将前者转化为进程代数ACSR(Algebraof Communicating Shared Resources)描述的几个定理,建立了SoC测试调度模型STS-ACSR。将核的并行测试映射为并发执行的进程,把测试资源建模为ACSR资源,优先级可以解决测试冲突,从而使得功耗约束下的测试获得最大并行性同时使测试应用时间最小。实验结果证明了进程代数在处理SoC测试调度问题方面优于经典的算法。
【学位授予单位】:哈尔滨工程大学
【学位级别】:博士
【学位授予年份】:2008
【分类号】:TN47

手机知网App
【引证文献】
中国硕士学位论文全文数据库 前4条
1 王星炜;汽车智能功率集成电路低成本测试技术研究[D];复旦大学;2010年
2 任栋梁;嵌入式闪存测试技术研究[D];复旦大学;2011年
3 朱琪峰;基于ADVANTEST的混合测试平台开发[D];上海交通大学;2011年
4 甘甜;基于Teradyne J750测试平台的射频芯片低成本测试方案开发及实现[D];复旦大学;2010年
【参考文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 杨军;罗岚;;基于TCG图和模拟退火算法的SoC测试调度[J];电路与系统学报;2006年05期
2 韩银和 ,李晓维 ,徐勇军 ,李华伟;应用Variable-Tail编码压缩的测试资源划分方法[J];电子学报;2004年08期
3 方建平,郝跃,刘红侠,李康;应用混合游程编码的SOC测试数据压缩方法[J];电子学报;2005年11期
4 彭喜元;俞洋;;基于变游程编码的测试数据压缩算法[J];电子学报;2007年02期
5 欧阳一鸣;成丽丽;梁华国;;一种基于变长数据块相关性统计的测试数据压缩和解压方法[J];电子学报;2008年02期
6 韩银和;李华伟;李晓维;Anshuman Chandra;;基于卷积编码的SOC测试响应压缩研究[J];中国科学E辑:信息科学;2006年06期
7 梁华国,聚贝勒·海伦布昂特,汉斯-耶西姆·冯特利希;一种基于折叠计数器重新播种的确定自测试方案[J];计算机研究与发展;2001年08期
8 梁华国,蒋翠云;使用双重种子压缩的混合模式自测试[J];计算机研究与发展;2004年01期
9 韩银和,李晓维,李华伟;适用于扫描测试中的测试响应压缩电路设计[J];计算机研究与发展;2005年07期
10 董婕;胡瑜;韩银和;李晓维;;基于组合解压缩电路的多扫描链测试方法[J];计算机研究与发展;2006年06期
中国博士学位论文全文数据库 前1条
1 韩银和;数字电路测试压缩方法研究[D];中国科学院研究生院(计算技术研究所);2005年
【共引文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 方祥圣;曹先霞;;系统芯片SOC的BIST测试研究[J];安徽建筑工业学院学报(自然科学版);2006年03期
2 刘娟;詹文法;黄忠;;基于交替变游程编码的测试数据压缩方法[J];安庆师范学院学报(自然科学版);2011年02期
3 颜学龙,潘鹏程;基于IP核的芯片级测试结构研究[J];半导体技术;2005年09期
4 李俊;成立;徐志春;韩庆福;张荣标;张慧;;基于扫描链结构重组的低功耗BIST方案[J];半导体技术;2007年09期
5 方昊;宋晓笛;程旭;;CacheCompress:一种新颖的面向IP核的动态字典测试压缩技术[J];北京大学学报(自然科学版);2009年05期
6 牛道恒;王红;杨士元;;序列对递增生成的SOC测试调度算法[J];北京邮电大学学报;2007年05期
7 ;Ant colony optimization approach for test scheduling of system on chip[J];重庆邮电大学学报(自然科学版);2009年02期
8 张旭;刘煜坤;张旭辉;张礼勇;;一种改进的扫描电路测试压缩方法[J];电测与仪表;2010年11期
9 张阳;张海;;一种系统测试中的快速多协议匹配算法[J];电光与控制;2010年07期
10 陆军;刘大昕;陈立岩;;基于排列组合的常数级压缩方法[J];大连海事大学学报;2008年04期
中国重要会议论文全文数据库 前10条
1 李鑫;梁华国;陈田;王伟;易茂祥;;基于折叠计数器的低功耗确定BIST方案[A];2011中国仪器仪表与测控技术大会论文集[C];2011年
2 王丽娟;梁华国;陈田;王伟;李扬;;基于位差码的测试数据压缩方案[A];2011中国仪器仪表与测控技术大会论文集[C];2011年
3 韦兴军;卢泽新;;基于TCAM的入侵检测系统硬件加速技术[A];中国电子学会第十五届信息论学术年会暨第一届全国网络编码学术年会论文集(上册)[C];2008年
4 张光斌;谢维盛;吴鸿伟;;基于CUDA的多模式匹配技术[A];第26次全国计算机安全学术交流会论文集[C];2011年
5 张莹莹;段翔;周彬;王晓云;;移动通信网络中的内容安全[A];2007年中国通信学会“移动增值业务与应用”学术年会论文集[C];2007年
6 雷加;方刚;;一种基于遗传算法的SOC测试调度方法[A];2007'中国仪器仪表与测控技术交流大会论文集(一)[C];2007年
7 欧阳一鸣;余健;梁华国;;一种针对多特征序列的测试数据压缩方法[A];第六届全国信息获取与处理学术会议论文集(3)[C];2008年
8 张磊;梁华国;陶珏辉;;测试集划分的多扫描链二次测试数据压缩方法[A];计算机技术与应用进展——全国第17届计算机科学与技术应用(CACIS)学术会议论文集(下册)[C];2006年
9 张磊;蒋翠云;梁华国;陶珏辉;;一种基于测试集分组的广义交替码[A];计算机技术与应用进展·2007——全国第18届计算机技术与应用(CACIS)学术会议论文集[C];2007年
10 刘萍;刘燕兵;谭建龙;郭莉;;对多模式串匹配算法性能评测方法的探讨[A];全国网络与信息安全技术研讨会论文集(下册)[C];2007年
中国博士学位论文全文数据库 前10条
1 眭新光;文本信息隐藏及分析技术研究[D];解放军信息工程大学;2007年
2 周彬;低测试成本的确定性内建自测试(BIST)的研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
3 曹贝;SoC低功耗测试技术和温度意识测试规划研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
4 朱敏;电子系统内建自测试技术研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
5 邓立宝;SOC测试时间优化技术研究[D];哈尔滨工业大学;2012年
6 张弘;面向系统芯片测试的设计优化技术研究[D];西安电子科技大学;2004年
7 詹瑾瑜;SoC软/硬件协同设计方法研究[D];电子科技大学;2006年
8 李锐;低功耗内建自测试设计方法研究[D];东南大学;2005年
9 王永生;系统级芯片(SoC)可测试性结构及其优化的研究[D];哈尔滨工业大学;2006年
10 孙国玺;多变异拟子—基因共同进化算法的理论及应用研究[D];华南理工大学;2006年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 孟凡勇;Huffman编码在环保实时监测系统中的研究与应用[D];中国海洋大学;2010年
2 于强;高效存储的深度包检测算法[D];西安电子科技大学;2009年
3 段海生;基于正则表达式的深度包压缩算法研究[D];西安电子科技大学;2010年
4 韩玉婷;入侵防御系统的研究与关键技术的实现[D];北京邮电大学;2011年
5 杨年宏;基于三维结构的SoC低功耗测试技术研究[D];合肥工业大学;2011年
6 黄喜娥;基于部分复用和统计的SoC测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2011年
7 顾婉玉;基于扫描的低功耗测试方法研究[D];合肥工业大学;2011年
8 徐三子;基于幂次划分和分块编码的SoC测试数据压缩方法的研究[D];合肥工业大学;2011年
9 李松坤;基于折叠计数器的多扫描链SoC内建自测试方法研究[D];合肥工业大学;2011年
10 厉海涛;多模式匹配算法及其在入侵检测系统中的应用研究[D];杭州电子科技大学;2011年
【同被引文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 杨广宇;SoC测试的发展趋势及挑战——安捷伦科技93000 SoC测试系统的解决方案[J];半导体技术;2003年03期
2 谈颖莉,戎蒙恬;SOC芯片设计与测试[J];半导体技术;2004年06期
3 许伟达;;IC测试原理[J];半导体技术;2006年04期
4 冯国臣,郑新建,沈绪榜;一种减小存储单元间串扰的新型阵列布局结构[J];半导体学报;2005年01期
5 乔明;方健;肖志强;张波;李肇基;;1200V MR D-RESURF LDMOS与BCD兼容工艺研究[J];半导体学报;2006年08期
6 乔明;肖志强;方健;郑欣;周贤达;徐静;何忠波;段明伟;张波;李肇基;;基于薄外延技术的高压BCD兼容工艺(英文)[J];半导体学报;2007年11期
7 谢永乐;李西峰;;模拟集成电路参数型故障定位方法[J];半导体学报;2008年03期
8 于劲松;鲍小明;赵泉;;面向信号的通用自动测试系统建模与设计[J];兵工学报;2009年04期
9 赵瑞贤;孟晓风;王国华;;通用ATE开关资源测试路径模型及应用[J];北京航空航天大学学报;2006年02期
10 汪飞;李昕欣;郭南翔;封松林;;MEMS悬臂梁式芯片测试探卡[J];传感技术学报;2008年03期
中国重要会议论文全文数据库 前4条
1 李晓维;;数字IC测试与可测试性设计[A];第五届中国测试学术会议论文集[C];2008年
2 葛樑;;应对RF SOC/SIP量产测试挑战[A];第五届中国测试学术会议论文集[C];2008年
3 吉国凡;王惠;;降低SOC芯片测试成本的有效方法[A];第五届中国测试学术会议论文集[C];2008年
4 马琪;裘燕锋;;片上SRAM内建自测试的实现方法[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
中国重要报纸全文数据库 前3条
1 记者 于寅虎;[N];中国电子报;2005年
2 王小江;[N];中国电子报;2007年
3 郭长佑;[N];电子资讯时报;2007年
中国博士学位论文全文数据库 前1条
1 易茂祥;系统芯片测试应用时间最小化技术研究[D];合肥工业大学;2010年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 张永光;芯片设计中的可测试性设计技术[D];浙江大学;2005年
2 徐卫林;系统级芯片的测试与可测性设计研究[D];湖南大学;2005年
3 胡伟聪;基于嵌入式系统和可编程ASIC的超大规模集成电路高温动态老化测试系统的研制[D];浙江大学;2006年
4 赵雪莲;微控制器测试向量生成方法的研究和实现[D];西南交通大学;2006年
5 荀庆来;微处理器全速电流测试实验研究[D];湖南大学;2006年
6 郭红英;存储测试专用集成电路成测技术研究[D];中北大学;2007年
7 王玺;模数混合信号系统级芯片的测试与可测性设计研究[D];湖南大学;2007年
8 孔冰;混合信号测试理论在生产测试中应用的研究[D];天津大学;2007年
9 吴雨健;DRAM原理及工艺流程的研究[D];天津大学;2007年
10 张欣;集成电路性能测试机系统软件的研究与实现—GPIB(IEEE 488)总线[D];天津大学;2007年
【二级引证文献】
中国硕士学位论文全文数据库 前1条
1 王群泽;FPGA测试系统的研究与设计[D];西安电子科技大学;2011年
【二级参考文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 韩银和 ,李晓维 ,徐勇军 ,李华伟;应用Variable-Tail编码压缩的测试资源划分方法[J];电子学报;2004年08期
2 方建平,郝跃,刘红侠,李康;应用混合游程编码的SOC测试数据压缩方法[J];电子学报;2005年11期
3 李忠诚,潘榆奇,闵应骅;一个基于电路结构分析的测试产生系统——SABATPG[J];中国科学(A辑 数学 物理学 天文学 技术科学);1993年02期
4 梁华国,聚贝勒·海伦布昂特,汉斯-耶西姆·冯特利希;一种基于折叠计数器重新播种的确定自测试方案[J];计算机研究与发展;2001年08期
5 王永成,沈州,许一震;改进的多模式匹配算法[J];计算机研究与发展;2002年01期
6 梁华国,蒋翠云;使用双重种子压缩的混合模式自测试[J];计算机研究与发展;2004年01期
7 胡瑜,韩银和,李晓维;SOC可测试性设计与测试技术[J];计算机研究与发展;2005年01期
8 谢永乐,陈光■;数字电路多加权集随机测试生成方法[J];计算机辅助设计与图形学学报;2002年06期
9 胡兵,陈光,谢永乐;使用重复播种和Golomb编码的二维测试数据压缩[J];计算机辅助设计与图形学学报;2005年03期
10 韩银和,李晓维;测试数据压缩和测试功耗协同优化技术[J];计算机辅助设计与图形学学报;2005年06期
中国博士学位论文全文数据库 前1条
1 徐磊;基于SOC架构的可测性设计方法学研究[D];清华大学;2002年
【相似文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 骆祖莹,李晓维,洪先龙;测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响[J];微电子学与计算机;2003年02期
2 万民永;潘赟;张宇弘;严晓浪;;基于测试向量相容的编码压缩方法[J];浙江大学学报(工学版);2010年11期
3 邢军;王冠军;;双阈值VLSI低测试功耗方法研究[J];计算机应用研究;2009年04期
4 欧阳一鸣;杨倩;梁华国;;基于数据相容压缩的RAS测试方法[J];计算机工程;2009年03期
5 邵晶波;马光胜;刘晓晓;;SoC测试调度的进程代数模型[J];计算机辅助设计与图形学学报;2009年04期
6 何世超;蔡觉平;郝跃;;基于分组网络结构NoC的BIST串扰测试方法[J];微电子学;2007年06期
7 梁华国;祝沈财;陈田;张念;;基于RAS结构优化测试时间和数据量的测试方案[J];电子学报;2008年12期
8 刘连惠;林志文;雷琴;;含ROM和RAM芯片的数字电路板测试生成[J];计算机测量与控制;2006年10期
9 罗露;向东;;基于扫描森林结构的种子编码方案[J];计算机工程;2007年04期
10 祝沈财;蒋翠云;梁华国;叶益群;张念;;基于折叠集的低功耗测试[J];计算机应用;2007年12期
中国重要会议论文全文数据库 前10条
1 李光宇;梁华国;李扬;虎号;;基于向量优化重组的LFSR重播种方法[A];第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)论文集[C];2011年
2 王伟;李晓维;张佑生;方芳;;芯片测试中的功耗控制技术[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
3 王文峰;王酣;关锡佑;;功能测试码I_(DDD)测试向量的优化[A];加入WTO和中国科技与可持续发展——挑战与机遇、责任和对策(上册)[C];2002年
4 俞洋;彭喜元;;基于部分重叠片段的并行测试封装设计[A];2009中国仪器仪表与测控技术大会论文集[C];2009年
5 顾婉玉;梁华国;徐三子;陈田;王伟;;一种基于响应中无关位填充的测试数据压缩方法[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
6 韩银和;李华伟;李晓维;;芯片的失效分析及基于其的测试调度技术[A];第十届全国容错计算学术会议论文集[C];2003年
7 王伟;李晓维;张佑生;方芳;;静态测试功耗优化技术[A];计算机技术与应用进展——全国第17届计算机科学与技术应用(CACIS)学术会议论文集(下册)[C];2006年
8 杨懿;周瑞华;黄维康;;变长序列重复播种内建自测试方案探讨[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
9 张颖;李华伟;李晓维;胡瑜;;SOC总线串扰的精简MT测试集[A];第五届中国测试学术会议论文集[C];2008年
10 邝继顺;靳立运;王伟征;尤志强;;减少自反馈测试硬件代价的两种方法[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
中国重要报纸全文数据库 前10条
1 记者 仝静海;193所省外院校在我省进行艺术专业测试[N];河北日报;2009年
2 《网络世界》评测实验室 荣钰;关注测试时间[N];网络世界;2003年
3 郭莹;测试数据,该信谁?[N];中国计算机报;2005年
4 兰光实验室;传感器法透气性测试标准中的几个问题[N];中国包装报;2007年
5 兰光实验室;压差法与等压法在测试效率上存在的误解[N];中国包装报;2007年
6 胡博理;我省普通高校招生体育专业测试时间确定[N];河北日报;2005年
7 兰光实验室;压差法透气性测试设备检测效率获得明显改进[N];中国包装报;2006年
8 张斌;建立测试自动化框架[N];计算机世界;2006年
9 本报记者 李雪林姜澎 实习生 李涛;名校选拔“撞车” 考生取舍好难[N];文汇报;2008年
10 ;采用HT技术的P4 3.06GHz处理器的测试数据[N];电子资讯时报;2002年
中国博士学位论文全文数据库 前10条
1 邵晶波;SoC测试资源优化方法研究[D];哈尔滨工程大学;2008年
2 方芳;基于片上网络的众核芯片关键测试技术研究[D];合肥工业大学;2010年
3 周彬;低测试成本的确定性内建自测试(BIST)的研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
4 王伟征;数字电路低费用低功耗测试技术研究[D];湖南大学;2011年
5 俞洋;系统芯片测试优化关键技术研究[D];哈尔滨工业大学;2008年
6 徐磊;基于SOC架构的可测性设计方法学研究[D];清华大学;2002年
7 邓立宝;SOC测试时间优化技术研究[D];哈尔滨工业大学;2012年
8 王伟;VLSI扫描测试中的低功耗测试方法研究[D];合肥工业大学;2007年
9 王义;集成电路低功耗内建自测试技术的研究[D];贵州大学;2009年
10 李锐;低功耗内建自测试设计方法研究[D];东南大学;2005年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 杨倩;基于RAS结构的SOC测试方法的应用研究[D];合肥工业大学;2008年
2 祝沈财;基于RAS结构的测试方法研究[D];合肥工业大学;2008年
3 黄巍;基于两级扫描结构路径延迟故障的低功耗测试[D];清华大学;2007年
4 梅春雷;优化SoC测试性能的测试数据重组技术研究[D];合肥工业大学;2012年
5 于海涛;测试数据编码压缩技术的研究[D];哈尔滨工程大学;2008年
6 王宇;基于蚁群算法和粒子群算法的数字集成电路测试生成研究[D];哈尔滨工程大学;2008年
7 方祥圣;系统芯片SOC的逻辑BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
8 张磊;一种基于扫描阵列的快速低功耗可测性设计方法[D];哈尔滨工程大学;2007年
9 易东严;基于树形向量解压缩器降低测试数据量的研究[D];湖南大学;2009年
10 易林;基于LFSR重播种的测试压缩技术的研究与仿真测试[D];哈尔滨理工大学;2011年
 快捷付款方式  订购知网充值卡  订购热线  帮助中心
  • 400-819-9993
  • 010-62791813
  • 010-62985026