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《复旦大学》 2008年
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Intel NOR闪存Class测试流程的优化与实现

单晓华  
【摘要】: 随着闪存的设计制造测试在中国的越来越普及,大规模制造厂在中国如雨后春笋般的涌出,在实际生产中的测试时间和成品率问题对成本的控制来说就尤为重要.在这里阐述了一个以Intel闪存产品为例,大幅度降低测试时间,扩大产能的方法. 本文共分八章.第一章绪论中,介绍了选题的目的意义;第二章,介绍Intel闪存产品版图,物理结构,功能特性.以对产品有一大概认识.第三章,从Sort Class的标准测试流程入手,对以往测试流程及其所能检测的功能有一大致了解.为下一章特殊的Flow做为一个可比对象.第四章,提出1P/E的设想.介绍这个流程的特殊性,特殊的测试流程结构,所能检测出的失效模型.并对会漏检的失效模型着力分析.而在第五章~第七章中,对这些未能在特殊流程中检测出的测试模型,提出解决方案.第八章,通过对第一批1P/E流程的产品的分析总结,进一步完善1P/E流程;在最终的量产中得以大规模运用。
【学位授予单位】:复旦大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2008
【分类号】:TP333

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【引证文献】
中国硕士学位论文全文数据库 前1条
1 初立尧;Flash电荷泵高压的失效分析及改善[D];复旦大学;2011年
【同被引文献】
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2 潘立阳,朱钧;Flash存储器技术与发展[J];微电子学;2002年01期
中国硕士学位论文全文数据库 前6条
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2 吴浩;Flash存储器中的电荷泵系统研究与设计[D];苏州大学;2007年
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5 记者 俞佩忠 通讯员 徐立;报名和测试时间均比往年有所提前[N];嘉兴日报;2010年
6 金姝;军事武警公安司法院校面试体检陆续开始[N];吉林日报;2008年
7 记者 金姝;军事武警公安司法院校 面试体检陆续开始[N];吉林日报;2007年
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3 卢丽丽;寿胎丸对RSA模型小鼠子宫蜕膜Annexin A_2和TTR表达影响的研究[D];湖南中医药大学;2012年
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5 玄金;基于频域法的深水顶张式立管(TTR)涡激振动(VIV)与疲劳研究[D];中国海洋大学;2009年
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7 刘蓓;三维集成电路测试时间的优化方法研究[D];合肥工业大学;2011年
8 倪怡芳;基于SOC架构的可测试性设计策略的研究[D];浙江大学;2007年
9 张磊;一种基于扫描阵列的快速低功耗可测性设计方法[D];哈尔滨工程大学;2007年
10 张先奎;基于姿态监测的汽车侧翻预警及控制研究[D];南京航空航天大学;2007年
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