收藏本站
《南京航空航天大学》 2010年
收藏 | 手机打开
二维码
手机客户端打开本文

边界扫描测试算法和BIST技术的研究与实现

刘静  
【摘要】: 边界扫描技术作为一种标准的数字电路测试及可测性设计方法,它以特有的结构和检测方法克服了数字电路测试的技术障碍,能大大提高数字电路的可测试性。随着边界扫描芯片在电子设备中的大量应用,研究及应用边界扫描测试理论,开发出实用的边界扫描测试系统,对于提高设备的可测试性、降低维护费用具有重要意义。 本文主要研究边界扫描测试理论及实现,包括基于边界扫描的互连测试算法、内建自测试设计及其应用。通过研究和分析现有的互连测试算法的思想及性能,提出了优化的改进算法,使得生成的测试向量集能够更好的兼顾测试时间和故障诊断能力。针对互连测试不能检测芯片内部逻辑问题,设计了基于边界扫描的内建自测试方案,采用伪随机测试的设计方法,实现芯片内部逻辑功能的检测,扩大了边界扫描测试的应用范围。为了验证测试优化算法和BIST设计方案的正确性,本文设计并完善了由测试软件和测试接口卡组成的边界扫描测试系统。其中,测试软件运行于主控计算机上,可以完成测试向量生成、测试加载、响应分析等测试任务;测试接口卡实现了边界扫描控制器功能,按照IEEE 1149.1标准,将测试软件送入的指令和向量转换为相应的测试信号,控制被测电路进行测试。 最后,运用测试系统完成了两块被测电路的互连测试和内建自测试实验。实验结果表明,测试系统能够对电路进行有效的故障诊断,验证了文中提出的算法和设计方案的正确性。
【学位授予单位】:南京航空航天大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2010
【分类号】:TN407

手机知网App
【参考文献】
中国期刊全文数据库 前5条
1 王宁,李桂祥,杨江平;边界扫描测试结构完备性诊断策略[J];半导体技术;2003年09期
2 王宁,李桂祥,张尊泉;边界扫描器件BSDL描述在测试中的应用[J];半导体技术;2003年10期
3 温熙森,刘冠军,黎琼炜,易晓山;基于边界扫描的板级BIT技术研究现状及发展趋势[J];航空计测技术;1999年03期
4 张华,陈朝阳,沈绪榜;基于微机的边界扫描测试主控系统的设计[J];华中科技大学学报(自然科学版);2002年05期
5 王建业,阚保强,吴法文;边界扫描技术在PCB可测性设计中的应用[J];空军工程大学学报(自然科学版);2003年05期
中国硕士学位论文全文数据库 前3条
1 刘建芳;基于边界扫描测试技术的测试图形生成的研究[D];江苏大学;2006年
2 段军棋;基于边界扫描的测试算法和BIST设计技术研究[D];电子科技大学;2004年
3 谭细金;基于LASAR和边界扫描的故障诊断系统设计[D];电子科技大学;2004年
【共引文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 王宁,李桂祥,杨江平;边界扫描测试结构完备性诊断策略[J];半导体技术;2003年09期
2 王宁;董兵;;基于边界扫描的非完全BS电路板测试诊断技术[J];半导体技术;2005年12期
3 王宁;;基于边界扫描的逻辑簇测试诊断软件开发[J];半导体技术;2006年04期
4 须自明;苏彦鹏;于宗光;;基于March C-算法的SRAM BIST电路的设计[J];半导体技术;2007年03期
5 李开成,程荫杭;微机化叠加点式信息系统安全性可靠性研究[J];北方交通大学学报;2000年05期
6 袁艺芳,徐茂生;计算机联锁系统可靠性研究[J];北方交通大学学报;2002年03期
7 邓启辉;用JTAG烧写Flash的方法[J];兵工自动化;2005年01期
8 王庆春;曹喜信;路卫军;何晓燕;曹健;;H.264/AVC编码器中6阶插值滤波器的实现[J];北京大学学报(自然科学版);2007年03期
9 万锴;马齐爽;王鹏;;混合电路故障诊断中的状态分割法[J];北京航空航天大学学报;2007年10期
10 陈勇;;有限状态机的建模与优化设计[J];重庆工学院学报(自然科学版);2007年05期
中国重要会议论文全文数据库 前10条
1 杨德伟;王华;;基于FPGA实现的以太网和E1的协议转换[A];2005年海峡两岸三地无线科技学术会论文集[C];2005年
2 朱剑平;李文耀;;二进制伪随机序列在环路延时测量中的应用[A];2007北京地区高校研究生学术交流会通信与信息技术会议论文集(下册)[C];2008年
3 焦慧芳;张小波;贾新章;;一种基于LFSR与MARCH C+算法的SRAM内建自测电路设计[A];第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集[C];2005年
4 赵军阳;张志利;;JTAG技术及其在FLASH在线编程中的应用[A];2004全国测控、计量与仪器仪表学术年会论文集(下册)[C];2004年
5 杨光友;程良明;苏旭武;张铮;;基于FPGA的PCB测试机硬件电路设计[A];2005年十二省区市机械工程学会学术年会论文集(湖北专集)[C];2005年
6 白广治;陈泉根;;十六位RISC_CPU的FPGA实现[A];第二届全国信息与电子工程学术交流会暨第十三届四川省电子学会曙光分会学术年会论文集[C];2006年
7 朱鹏;唐万斌;雷霞;;基于FPGA的AD/DA-DSP接口设计[A];2006中国西部青年通信学术会议论文集[C];2006年
8 李凤麟;钟洪声;;保密通信中RS编解码的FPGA实现[A];2006中国西部青年通信学术会议论文集[C];2006年
9 宁小玲;孙臣良;秦亮;程江涛;;基于IEEE1445标准的电路板自动测试结构设计与实现[A];第十七届全国测控计量仪器仪表学术年会(MCMI'2007)论文集(上册)[C];2007年
10 刘思久;罗艳;郑春平;于德伟;;用于边界扫描测试的虚拟仪器开发[A];2007'中国仪器仪表与测控技术交流大会论文集(一)[C];2007年
中国博士学位论文全文数据库 前10条
1 王小港;遗传算法在VLSI设计自动化中的应用研究[D];中国科学院上海冶金研究所;2001年
2 康波;混沌控制与混沌优化及其在组合电路测试生成中的应用研究[D];电子科技大学;2003年
3 胡瑜;基于有色Petri网理论的并行自动测试系统建模研究[D];电子科技大学;2003年
4 章步云;滑坡位移无线监测系统设计与实现[D];南京理工大学;2004年
5 孙秀斌;混合信号电路故障诊断的内建自测试(BIST)方法研究[D];电子科技大学;2004年
6 杨光;机电产品BIT系统传感层降虚警的理论与技术研究[D];国防科学技术大学;2003年
7 单庆晓;级联型逆变器关键技术研究[D];国防科学技术大学;2003年
8 刘丽娟;矢量量化编码算法及其VLSI结构设计的研究[D];华中科技大学;2004年
9 李训根;深亚微米工艺条件下标准单元和存储器逻辑参数提取及建模技术研究[D];浙江大学;2005年
10 王承;基于神经网络的模拟电路故障诊断方法研究[D];电子科技大学;2005年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 邱瑜;用于研究聚合物在剪切场下相结构的激光分析系统[D];四川大学;2000年
2 黄晓璐;基于功能模块的大规模RTL组合电路分层测试产生算法研究[D];湖南大学;2001年
3 宁国勤;激光打标控制系统的研究与实现[D];华中师范大学;2002年
4 舒昶;特种芯片集成中的可测性设计[D];中国科学院研究生院(电子学研究所);2002年
5 张沛泉;无线数据传输模拟的设计与实现[D];电子科技大学;2002年
6 尹小虎;WCDMA信道编码的研究和实现[D];电子科技大学;2002年
7 车国轮;激光陀螺捷联惯导系统状态监控技术研究[D];国防科学技术大学;2002年
8 刘海涛;基于多DSP的相控阵雷达高速实时信号处理系统的设计与开发[D];国防科学技术大学;2002年
9 许小林;PROFIBUS-DP控制系统可靠性技术研究[D];浙江大学;2003年
10 周健;自然环境下的二维条码自动识读技术的研究[D];西安理工大学;2003年
【同被引文献】
中国期刊全文数据库 前8条
1 王宁,李桂祥,杨江平;边界扫描测试结构完备性诊断策略[J];半导体技术;2003年09期
2 王宁,李桂祥,张尊泉;边界扫描器件BSDL描述在测试中的应用[J];半导体技术;2003年10期
3 赵会洋;王爽;杨志鹏;;粒子群优化算法研究综述[J];福建电脑;2007年03期
4 张华,陈朝阳,沈绪榜;基于微机的边界扫描测试主控系统的设计[J];华中科技大学学报(自然科学版);2002年05期
5 胡政,钱彦岭,温熙森;边界扫描测试优化算法——极小权值-极大相异性算法[J];测控技术;2000年09期
6 尚玉玲,颜学龙,雷加,李春泉;遗传算法的板级边界扫描测试矢量优化及应用[J];计算机工程与应用;2004年20期
7 陈新武,余本海;边界扫描测试协议剖析——从1149.1到1149.6[J];计算机与数字工程;2005年01期
8 王建业,阚保强,吴法文;边界扫描技术在PCB可测性设计中的应用[J];空军工程大学学报(自然科学版);2003年05期
中国硕士学位论文全文数据库 前9条
1 俞红娟;组合电路测试生成算法研究[D];哈尔滨理工大学;2006年
2 于德伟;基于边界扫描的数字系统可测性设计研究[D];哈尔滨工业大学;2006年
3 张书静;边界扫描技术研究[D];电子科技大学;2005年
4 贾勇;FPGA连线资源的自适应诊断算法研究[D];哈尔滨工程大学;2005年
5 赵莹;数字集成电路测试生成算法研究[D];哈尔滨理工大学;2005年
6 徐建洁;边界扫描测试系统设计与实现[D];国防科学技术大学;2005年
7 侯艳丽;基于粒子群算法的数字集成电路测试生成研究[D];哈尔滨工程大学;2006年
8 刘建芳;基于边界扫描测试技术的测试图形生成的研究[D];江苏大学;2006年
9 梁军;粒子群算法在最优化问题中的研究[D];广西师范大学;2008年
【二级参考文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 杨学贤,张群英,韩月秋;雷达系统级测试的边界扫描方法[J];北京理工大学学报;2000年02期
2 胡政,温熙森;边界扫描测试的数学描述模型[J];国防科技大学学报;1999年05期
3 温熙森,刘冠军,黎琼炜,易晓山;基于边界扫描的板级BIT技术研究现状及发展趋势[J];航空计测技术;1999年03期
4 张华,陈朝阳,沈绪榜;基于微机的边界扫描测试主控系统的设计[J];华中科技大学学报(自然科学版);2002年05期
5 胡政,钱彦岭,温熙森;边界扫描测试优化算法——极小权值-极大相异性算法[J];测控技术;2000年09期
6 徐钦桂,崔向东,孙锁林;基于JTAG边界扫描的在线导通测试算法[J];计算机工程与科学;1998年01期
7 周战馨,缪栋;基于PCI总线的超大规模集成电路边界扫描测试系统[J];计算机测量与控制;2002年02期
8 王隆刚,李桂祥,杨江平;基于边界扫描技术的VLSI芯片互连电路测试研究[J];计算机测量与控制;2003年04期
9 李若仲,杨晓蓉,李兆展;CPLD应用中VHDL的优化设计[J];空军工程大学学报(自然科学版);2003年02期
10 王隆刚,杨江平,李桂祥,徐子闻;基于边界扫描的VLSI互连网络故障诊断研究[J];空军雷达学院学报;2003年01期
【相似文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 杨静玲;可测性设计的发展[J];国外电子测量技术;1994年04期
2 丹·罗曼西克 ,吴行军;BIST增强IC的可测性[J];国外电子测量技术;1995年03期
3 沈绪榜,梁松海;边界扫描体系结构的一种实现设计[J];小型微型计算机系统;1991年11期
4 杨吉祥 ,赵玉莲;用于电路板生产检验的边界扫描[J];国外电子测量技术;1997年02期
5 徐钦桂;基于边界扫描的大型多处理器系统的硬件调试[J];计算机工程;2005年09期
6 郭学仁;边界扫描测试—复杂MCM的主流测试技术[J];桂林电子工业学院学报;2000年04期
7 杨廷善;边界扫描技术及其应用[J];测控技术;2000年09期
8 姜鹏,沈绪榜;基于IEEE1149.X标准的测试技术研究[J];微电子学与计算机;2004年12期
9 刘进,马海,张鸿海;基于边界扫描的激光烧结成型[J];机械研究与应用;1998年01期
10 张义忠 ,魏震生 ,冯振声 ,田良;ScanBIST:扫描机内自检技术[J];国外电子测量技术;1998年01期
中国重要会议论文全文数据库 前10条
1 王伟征;邝继顺;尤志强;刘鹏;;一种基于扫描子链轮流扫描捕获的低费用BIST方法[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
2 彭喜元;俞洋;孙宁;;边界扫描技术的板级实现方法研究[A];2004全国测控、计量与仪器仪表学术年会论文集(上册)[C];2004年
3 谈恩民;张勇;;一种新型的可编程存储器BIST设计[A];2004全国测控、计量与仪器仪表学术年会论文集(下册)[C];2004年
4 吴义成;梁华国;李松坤;黄正峰;易茂祥;;一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
5 尚玉玲;谈恩民;颜学龙;雷加;;边界扫描的互连测试故障诊断技术研究[A];2004全国测控、计量与仪器仪表学术年会论文集(下册)[C];2004年
6 魏淑华;侯明金;;SoC中混合信号测试与可测性设计研究[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
7 吴进华;吴媛媛;唐静;;基于ANFIS的控制系统的BIT检测方法[A];2004全国测控、计量与仪器仪表学术年会论文集(下册)[C];2004年
8 李鑫;梁华国;陈田;王伟;易茂祥;;基于折叠计数器的低功耗确定BIST方案[A];2011中国仪器仪表与测控技术大会论文集[C];2011年
9 汪滢;辛晓宁;王宏;马纪虎;;BIST技术及其在Memory中的应用[A];首届信息获取与处理学术会议论文集[C];2003年
10 姜岩峰;鞠家欣;张晓波;杨兵;于韶光;;基于模拟集成电路BIST的ARMA模块设计[A];第十九届测控、计量、仪器仪表学术年会(MCMI'2009)论文集[C];2009年
中国重要报纸全文数据库 前8条
1 中科院计算技术研究所 张 伸;在设计中引入测试理念[N];计算机世界;2004年
2 何俊山;IC自动测试系统关键技术[N];中国电子报;2000年
3 南通富士通微电子有限公司 曹清波;IC测试新要求:两高两低[N];中国电子报;2004年
4 美国Credence公司董事长 Graham Siddall;现代高级集成电路设计—测试综合策略的构建[N];中国企业报;2002年
5 龚永林;印制板与安装技术的最新课题[N];中国电子报;2004年
6 李少林;AVS肩负特殊使命[N];中国电子报;2003年
7 陈翔;邮件系统也可像打开水龙头一样易用[N];中国计算机报;2005年
8 哲一;学成归国为TD[N];中国电子报;2008年
中国博士学位论文全文数据库 前10条
1 谈恩民;数字电路BIST设计中的优化技术[D];上海交通大学;2007年
2 周彬;低测试成本的确定性内建自测试(BIST)的研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
3 张金林;SoC的层次式测试方法研究[D];华中科技大学;2007年
4 朱敏;电子系统内建自测试技术研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
5 孙秀斌;混合信号电路故障诊断的内建自测试(BIST)方法研究[D];电子科技大学;2004年
6 张弘;面向系统芯片测试的设计优化技术研究[D];西安电子科技大学;2004年
7 王义;集成电路低功耗内建自测试技术的研究[D];贵州大学;2009年
8 王志颖;复杂装备智能机内测试技术研究[D];电子科技大学;2011年
9 曹贝;SoC低功耗测试技术和温度意识测试规划研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
10 王伟征;数字电路低费用低功耗测试技术研究[D];湖南大学;2011年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 刘静;边界扫描测试算法和BIST技术的研究与实现[D];南京航空航天大学;2010年
2 罗涛;复杂数字电路板的可测性研究[D];江苏科技大学;2011年
3 王君虎;高性能可测试性电路设计[D];上海交通大学;2010年
4 张乐;基于边界扫描的板级测试方法研究与应用[D];南京理工大学;2012年
5 何庆佳;雷达电路板故障诊断系统的边界扫描模块的软件设计与实现[D];电子科技大学;2011年
6 杨江;边界扫描测试建模关键技术研究[D];哈尔滨工业大学;2011年
7 刘洁;基于嵌入式DLL的BIST设计[D];西安电子科技大学;2010年
8 谭细金;基于LASAR和边界扫描的故障诊断系统设计[D];电子科技大学;2004年
9 赵明;基于Spectrum系统的边界扫描在线测试设计与实现[D];苏州大学;2010年
10 詹琰;加权内建自测试(BIST)设计中的多目标优化技术研究[D];桂林电子科技大学;2011年
 快捷付款方式  订购知网充值卡  订购热线  帮助中心
  • 400-819-9993
  • 010-62791813
  • 010-62985026