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《南京理工大学》 2004年
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热释电红外焦平面阵列非均匀性校正研究

闫文成  
【摘要】:热释电型红外焦平面阵列是非致冷红外热成像技术发展的主流之一。与红外单元器件相比,红外焦平面阵列探测器的一个最大的缺点是其固有的非均匀性,它极大的限制了红外焦平面成像系统的探测性能。实用化、实时的非均匀性校正技术是红外焦平面阵列器件应用的一个关键技术。本文就是针对热释电型红外焦平面阵列的非均匀性特征,开展对热释电红外焦平面阵列的非均匀性分析以及其校正方法的研究。 文中论述了红外焦平面阵列技术的发展状况,分析了红外焦平面阵列非均匀性产生的原因及特点,讨论了几种常用的非均匀性校正的方法,指出了其各自的优缺点和适应场合。在分析热释电红外焦平面阵列图像特性的基础上,编写和调试了非均匀性校正图像处理软件,对热释电红外图像进行了实验分析和处理。针对热释电型红外焦平面阵列,深入的分析了其工作原理,建立了描述其非均匀性的数学模型,提出了用动态场差分和增益系数校正结合的非均匀性校正算法,最后设计完成了相应的热释电红外焦平面阵列非均匀性校正硬件电路。
【学位授予单位】:南京理工大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2004
【分类号】:TN215

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