收藏本站
《重庆大学》 2005年
收藏 | 手机打开
二维码
手机客户端打开本文

基于边界扫描的内建自测试技术及其应用

谢天助  
【摘要】:基于边界扫描的内建自测试技术在诸如电子系统、电路板、集成电路的生产测试过程中有着广泛的应用。它们对缩短产品的综合生命周期成本有着重要的意义。随着集成电路的集成度和生产工艺水平的不断提高,使在一个半导体芯片上实现系统级的集成已成为可能,数字电子技术已进入片上系统(System on a Chip)时代。与此同时,片上系统的测试问题也随之产生,基于边界扫描的内建自测试技术为片上系统的测试提供了新的解决方案。 本文在分析边界扫描测试技术的基本原理和IEEE1149.1 标准的基础上,在FPGA 上实现了一种基于微处理器控制的适合在线自测试的嵌入式边界扫描内建自测试模块。并针对嵌入式目标跟踪系统在硬件上要能满足一定可靠性的要求,将设计的边界扫描内建自测试模块融入硬件设计中,来提高系统的可靠性和可测性,实现对嵌入式目标跟踪系统的故障检测和诊断、故障屏蔽冗余和系统重组与恢复的功能。跟踪系统包含Nios 处理器系统、图像采集和显示模块、外部通信模块等,硬件电路的验证在Altera 的FPGA 开发板上完成,利用Nios 处理器来完成主要的跟踪算法。基于边界扫描的内建自测试系统模块包含Avalon总线接口、FIFO接口、CRC 校验等模块,通过它们和Nios 处理器系统进行数据交互,完成一定的测试功能。测试系统通过JTAG 接口和并行接口与PC 机端的主控程序进行通信。主控程序负责控制测试系统的工作,完成数据的读入读出。测试系统可以在主控程序的控制下工作,也可以利用Nios 处理器和保存在片上RAM 中的测试程序完成自测试功能。 本文针对嵌入式目标跟踪系统的测试问题,利用基于边界扫描的内建自测试技术实现了一种较好的解决方案。实验结果显示,测试系统能够完成预定的测试功能,对片上系统的测试具有一定的参考价值。
【学位授予单位】:重庆大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2005
【分类号】:TP274

手机知网App
【相似文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 黄文君;雷加;;星型边界扫描拓扑的测试方法研究[J];国外电子测量技术;2011年06期
2 张惠国;徐彦峰;曹正州;于大鑫;于宗光;;FPGA逻辑资源重配置测试技术研究[J];固体电子学研究与进展;2011年03期
3 谈恩民;詹琰;;结合预确定距离的BIST测试矢量优化[J];微电子学与计算机;2011年09期
4 欧阳一鸣;牛丽义;梁华国;;片上网络通信架构的BIST测试方法[J];电信科学;2011年08期
5 林海军;赵晓娜;杜雪珍;;基于C8051F041的CAN口操控器的研制[J];电子测量技术;2011年06期
6 张志超;侯立刚;吴武臣;;基于March C+算法的SRAM BIST设计[J];现代电子技术;2011年10期
7 许川佩;胡旭;;一种片上网络路由测试方法研究[J];微电子学与计算机;2011年07期
8 吴孝银;;基于减少确定位的动态LFSR重新播种方法[J];宿州学院学报;2011年05期
9 李丽;程海军;;基于分数阶微分的边界扫描[J];电脑知识与技术;2011年23期
10 ;[J];;年期
中国重要会议论文全文数据库 前10条
1 周敏;李少青;;CPU测试结构的设计和实现[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
2 崔伟;冯建华;;一种基于Loopback结构的RFIC内建自测试方法[A];第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)论文集[C];2011年
3 彭喜元;俞洋;孙宁;;边界扫描技术的板级实现方法研究[A];2004全国测控、计量与仪器仪表学术年会论文集(上册)[C];2004年
4 尚玉玲;谈恩民;颜学龙;雷加;;边界扫描的互连测试故障诊断技术研究[A];2004全国测控、计量与仪器仪表学术年会论文集(下册)[C];2004年
5 吴进华;吴媛媛;唐静;;基于ANFIS的控制系统的BIT检测方法[A];2004全国测控、计量与仪器仪表学术年会论文集(下册)[C];2004年
6 魏淑华;侯明金;;SoC中混合信号测试与可测性设计研究[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
7 梁华国;方祥圣;;一种基于折叠计数器优化播种的BIST方案[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
8 付祥;王达;李华伟;胡瑜;李晓维;;一种嵌入式存储器的内建自修复机制[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
9 殷贤华;李智;;自动测试系统中TPD文件建立规则的研究[A];2004全国测控、计量与仪器仪表学术年会论文集(上册)[C];2004年
10 杨婷;邝继顺;;基于测试片段间转移的低功耗BIST实现[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
中国重要报纸全文数据库 前4条
1 中科院计算技术研究所 张 伸;在设计中引入测试理念[N];计算机世界;2004年
2 龚永林;印制板与安装技术的最新课题[N];中国电子报;2004年
3 陈翔;邮件系统也可像打开水龙头一样易用[N];中国计算机报;2005年
4 哲一;学成归国为TD[N];中国电子报;2008年
中国博士学位论文全文数据库 前10条
1 朱敏;电子系统内建自测试技术研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
2 孙秀斌;混合信号电路故障诊断的内建自测试(BIST)方法研究[D];电子科技大学;2004年
3 徐磊;基于SOC架构的可测性设计方法学研究[D];清华大学;2002年
4 杨德才;算术运算电路的通路时延故障测试[D];电子科技大学;2008年
5 肖继学;基于累加器的DSP数据通路的内建自测试技术的研究[D];电子科技大学;2007年
6 李杰;低功耗内建自测试(BIST)设计技术的研究[D];东南大学;2004年
7 李锐;低功耗内建自测试设计方法研究[D];东南大学;2005年
8 詹文法;系统芯片外建自测试技术研究[D];合肥工业大学;2009年
9 朱彦卿;模拟和混合信号电路测试及故障诊断方法研究[D];湖南大学;2008年
10 潘张鑫;或—符合逻辑系统的可测性设计与测试[D];浙江大学;2007年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 罗涛;复杂数字电路板的可测性研究[D];江苏科技大学;2011年
2 谢天助;基于边界扫描的内建自测试技术及其应用[D];重庆大学;2005年
3 刘静;边界扫描测试算法和BIST技术的研究与实现[D];南京航空航天大学;2010年
4 周敏;通用微处理器的可测性设计及实现[D];国防科学技术大学;2005年
5 邢万;DSP可测性设计及测试方法研究[D];江南大学;2008年
6 张乐;基于边界扫描的板级测试方法研究与应用[D];南京理工大学;2012年
7 段军棋;基于边界扫描的测试算法和BIST设计技术研究[D];电子科技大学;2004年
8 何庆佳;雷达电路板故障诊断系统的边界扫描模块的软件设计与实现[D];电子科技大学;2011年
9 杨江;边界扫描测试建模关键技术研究[D];哈尔滨工业大学;2011年
10 高树静;嵌入式微处理器可测性设计研究与实现[D];青岛大学;2003年
 快捷付款方式  订购知网充值卡  订购热线  帮助中心
  • 400-819-9993
  • 010-62791813
  • 010-62985026