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《电子科技大学》 2015年
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电介质材料的介电行为研究

原玉  
【摘要】:天线窗和天线罩材料的介电性能的好坏直接关联着透波性能,可是由于现实条件的限制而导致天线罩材料在高频高温的测试显得很困难。主要是因为航天飞行器或者导弹的价格不菲,这导致很难搜集测试数据。因此我们通过数学建模和介电物理知识相结合的方式来从微观分析透波材料在高温高频时的介电性能。我们以经典电介质物理为基础,深刻的分析了几种极化机制,讨论了几种特定温度频率下介电常数和介电损耗的变化规律。然后用渗流相变理论与等效介质理论相结合的方式分析了多孔陶瓷的介电参数;也采用了二相元等效电路图来分析介电损耗。最后我们结合了电磁波理论来分析具体的实验测试复介电参数的原理。本文的具体研究内容如下:(1)运用电介质物理知识,深刻分析电子位移极化、离子位移极化、热离子极化和偶极子取向极化的机理;同时也探讨了电导损耗和弛豫损耗的损耗特性;对比了几种研究复合介质理论的计算方法优缺点;阐述了利用二相元电路法建立的模型。(2)分析了有效场修正的问题;简单介绍了氮化硅的性质;分析了致密/多孔氮化硅陶瓷的介电性能与温度、频率的变化规律;同时阐述了孔隙率是如何影响多孔氮化硅的介电性能;对比了仿真数据和实验数据,并分析了造成误差的几项原因。(3)首先讨论了固体二氧化硅的综合性能;从微观的数据和构建的复合介质的模型入手阐述了致密/多孔氧化硅的介电性能与温度、频率、杂质、孔隙率等的关系,对比试验数据和仿真数据的差异。(4)理论说明了常温、高温时的测试系统的机理;从数学的角度推导出品质因数为什么与复介电常数,介电损耗有关;简单阐述了整个测试流程。
【学位授予单位】:电子科技大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2015
【分类号】:TQ174.1

【参考文献】
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【共引文献】
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