垂直和斜向探测电离层参数反演遗传算法研究

【摘要】： 本文主要利用遗传算法对垂直探测和斜向探测电离层参数反演进行了研究。利用遗传算法对垂直探测电离层QPS层模型参数进行了反演研究,并利用实际垂测图数据对该反演方法进行了检验,结果表明该反演方法比ARTIST软件有着更高的计算精度同时具备一定的抗噪能力。利用电离层QP层模型,合成斜测电离图进行反演讨论,反演结果较为理想。考虑电离层电子密度分布不均匀性,利用变步长射线追踪技术对电波斜入射射线路径进行了讨论,实现了倾斜准抛物层附加以赤道双峰扰动电离层模型的射线追踪,并利用变步长射线追踪技术对电离层二维简化模型进行了遗传反演研究。在对斜测电离图数据进行初步去噪处理的基础上,利用斜率外推方法对回波描迹进行了初步的分离,并对初步处理的斜测图进行了电离层参数反演遗传算法定性讨论。