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基于CDV的随机测试技术

丁强  
【摘要】: 随着大规模集成电路的发展,其设计规模不断增加,从几十万门级发展到百万、千万门级,完成相应的验证工作也变得越来越困难,给相应的验证工作带来了巨大的挑战。如何在有限的芯片开发周期内完成芯片的设计,并完成相应的代码验证工作是我们面临的重要问题。目前业界广泛采用主要验证方法有断言验证、形式验证、功能验证等,各种验证方法都在实际的工程实践中得到广泛的应用。本文主要是应用Specman E语言对工程项目中的基于功能覆盖的验证。 该芯片是海思光网络研发管理部2006年开发的一款传输芯片,广泛应用于华为的传输设备,业务时钟频率范围从622MHz到2.5GHz,采用IBM的90nm的CMOS工艺、规模为两千万门级左右,主要处理光网络的14种业务向OTU1业务的映射、解映射,同时进行业务开销的提取监视和插入等工作。本人主要负责其中的两种业务的验证工作。本文以其中的一种业务STM-1的上行方向的验证为例,阐述基于功能覆盖的随机测试过程以及相应验证环境的搭建。随机测试过程包括featurelist的提取,测试方案的制定、功能点的checking过程、随机测试、补充测试。最终达到完全功能验证――功能覆盖率为100%。 目前该芯片功能验证工作已经全部完成,仿真结果表明设计的芯片性能良好,满足功能指标要求。


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