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《西安电子科技大学》 2009年
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自相关过程的SPC评价

吴传印  
【摘要】: 传统的统计过程控制理论基于数据统计独立的假设,而在有些实际生产过程中,采集到的数据往往会存在自相关。当存在数据自相关现象时,序列相关对质量控制图监控过程的能力有极大的影响,可能增加过程异常的错误报警,也可能漏发过程异常的真实报警。因此,本文对质量控制图序列相关处理理论及方法进行了深入系统研究,对进一步完善质量控制图的理论体系具有重要的理论意义;同时,也为实际工作中正确使用质量控制图提供了指导,对保证产品质量具有较高的实际价值。 本文首先介绍了SPC与常规控制图技术、自相关及时间序列的基础理论和知识。然后给出了处理自相关过程的两种方法:修正控制限控制图和残差控制图。 修正控制限控制图的优点在于不需要用时间序列模型来拟合测量值,只要过程处于平稳状态,利用其自协方差函数和自相关函数,即可得出最终的控制界限,从而绘制出自相关过程的控制图。 残差控制图是利用时间序列模型的残差来控制自相关过程质量的一种方法。分析结果表明:当过程存在自相关时,运用残差控制图更合适,但是,当自相关参数大于0时,残差控制图检测过程异常的灵敏度有待提高。 最后,运用实际生产中的自相关数据验证了残差控制图的正确性。对于在现代生产过程中自相关数据,建议使用残差控制图,来代替传统的控制图。
【学位授予单位】:西安电子科技大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2009
【分类号】:TB114.2;TN05

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【引证文献】
中国硕士学位论文全文数据库 前1条
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【参考文献】
中国期刊全文数据库 前5条
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【共引文献】
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【二级参考文献】
中国期刊全文数据库 前1条
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