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《西安电子科技大学》 2009年
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嵌入式存储器测试算法的研究与实现

郭双友  
【摘要】: 随着深亚微米技术的发展,嵌入式存储器在片上系统芯片(SoC)上占有越来越多的比重。由于嵌入式存储器中晶体管密集,存在高布线密度、高复杂度和高工作频率等因素,很容易发生物理缺陷。因此,研究高效率的测试算法,建立有效地嵌入式存储器测试方法,对提高芯片成品率,降低芯片生产成本具有十分重要的意义。测试算法是存储器测试的核心内容。算法的推导需要在故障覆盖率和算法复杂度上进行折衷。因此,如何得到低复杂度、高故障覆盖率的算法,是算法研究的难点。同时,存储器内建自测试(MBIST)电路作为附加测试电路,要求具有尽可能小的面积及功耗,而且不能影响存储器电路的正常工作。 本文从单一单元故障和耦合故障的13种存储器故障类型的研究出发,针对每种故障原语提出对应的March测试算法,通过这些测试算法的优化合并,推导出65nm工艺要求下的新型March 28算法,新算法可以检测所有现实的连接性故障、单一单元故障、耦合故障和数据保持故障,并且复杂度减少12.5%。对于用户自定义March算法的研究有一定的理论参考价值。之后生成了针对新算法的MBIST电路,在进行了优化升级之后应用于SoC上84个嵌入式存储器的测试,最后对MBIST电路的模块级和芯片级仿真结果表明,在不引入I/O管脚的情况下,可实现对存储器的测试。测试结果表明,本文设计的测试算法和电路满足研究设计要求,对实际应用提供了重要参考。
【学位授予单位】:西安电子科技大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2009
【分类号】:TP333

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【参考文献】
中国期刊全文数据库 前1条
1 王晓琴;黑勇;吴斌;乔树山;;嵌入式存储器MBIST设计中内建自诊断功能研究[J];电子器件;2005年04期
【共引文献】
中国重要会议论文全文数据库 前1条
1 焦慧芳;张小波;贾新章;;一种基于LFSR与MARCH C+算法的SRAM内建自测电路设计[A];第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集[C];2005年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 张必超;存储器测试技术及其在质量检验中的应用研究[D];四川大学;2005年
2 周涛;SRAM型FPGA的测试技术研究[D];电子科技大学;2006年
3 李强;180纳米工艺嵌入式每单元存储双比特数据的闪存程序存储器设计[D];上海交通大学;2006年
4 徐歆;嵌入式SRAM的可测性设计研究[D];浙江大学;2007年
5 董娜;集成芯片测试及PCU06ESP的测试研究[D];吉林大学;2007年
6 蔡烁;时延故障测试产生算法与I_(DDT)测试实验研究[D];湖南大学;2007年
7 杨姗姗;胚胎型仿生硬件细胞电路设计与自修复方法研究[D];南京航空航天大学;2007年
8 邓禹丹;数字电路测试生成平台研究与可测性设计的应用[D];南京航空航天大学;2007年
9 杜文明;基于边界扫描技术的电网故障录波器行波测距卡的研制[D];南京航空航天大学;2007年
10 席筱颖;8位MCU设计验证及测试向量故障覆盖率分析[D];哈尔滨理工大学;2007年
【同被引文献】
中国期刊全文数据库 前2条
1 胡瑜,韩银和,李晓维;SOC可测试性设计与测试技术[J];计算机研究与发展;2005年01期
2 苏彦鹏;薛忠杰;须自明;韩磊;;一种改进的嵌入式存储器测试算法[J];微计算机信息;2007年02期
中国重要会议论文全文数据库 前1条
1 杨修涛;鲁巍;李晓维;;存储器内建自测设计与分析[A];第十届全国容错计算学术会议论文集[C];2003年
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