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超小型集成电路测试分选机控制系统研究

刘泽军  
【摘要】:对超小型集成电路测试分选机控制系统进行研究,其可以对芯片进行打标、图像检测、电性能检测、废料回收和编带等功能,根据测试结果来处理芯片,最终把好的芯片回收到料盒或编带包装。首先对转塔式测试分选机上的直驱电机进行高精速定位控制技术研究,对直驱电机及其负载建立数学模型,在MATLAB/SIMULINK环境下建立仿真模型,其次对测试分选机控制系统进行总体设计,分析了测试分选机的性能指标要求和工位功能需求,并设计了以工控机为核心控制器的硬件架构。在软件系统方面,对测试分选机控制系统软件架构和运行逻辑进行设计,通过对C/S与B/S模式的比较,选择C/S的模式并对其进行改进,在改进后的三层软件架构上,运用面向对象思想对执行单元接口进行设计。在工作方式上,采用多线程同步控制技术与消息处理机制方法。在数据库的建立上,建立E-R图表,分析系统各个实体之间的关系,用Access建立系统库表,并用ADO技术对数据库进行各种操作,对界面功能模块进行系统测试与分析,且仿真结果证明此种控制方法满足转塔式测试分选机性能指标要求。研发出来的测试分选机控制软件已经应用在实际的产品上,测试结果表明测试分选机控制灵活、简单、高效。


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