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半导体激光器寿命测试系统研制

徐小红  
【摘要】:本论文回顾了产品可靠性以及寿命测试的历史发展、理论基础及其重要的实践意义。目前,可靠性和寿命已经成为产品质量的重要指标。在当今的产品研发和生产中,迫切需要科学合理地获得产品的可靠性和寿命数据。对于研发和生产企业,必须建立一套科学的可靠性筛选和预测寿命的方法,才能为使用者提供器件的可靠性保证。因此,可靠性及老化寿命测试系统作为重要的研究设备,具有非常重要的作用。 对于大功率半导体激光器,普遍存在器件的性能退化和失效问题。为了研究半导体激光器的失效模式及失效机理,提高产品的质量,使激光器的可靠性指标最终达到和满足使用要求,就需要获取器件的寿命测试数据。可靠性和寿命测试为半导体激光器器件研发人员提供一个尽快发现设计局限的手段,对于持续改进设计和提高工艺水平,不断推出新的高性能、高可靠性的产品具有重大意义。 随着半导体激光器的应用范围不断扩大,对于半导体激光器器件的可靠性和寿命测试的研究也不断深入,为了获得科学的可靠性和寿命测试数据,迫切需要研制相应的老化及寿命测试系统。但是由于半导体激光器的寿命很长,直接测试其工作寿命是不现实的。针对特定的长寿命的产品,为了在较短时间内获得寿命测试的数据,我们研制了加速寿命测试系统,并进行了实际的使用测试,为器件的研发和生产提供了重要的可靠性数据。 本论文的主要内容包括: 1) 产品可靠性及寿命测试理论基础及背景; 2) 半导体激光器的可靠性理论; 3) 半导体激光器加速寿命测试原理; 4) 加速寿命测试系统的设计、制作以及利用该系统测试获得14xx纳米激光二极管组件的实际寿命数据; 5) 结论:经过检验,该系统完全满足半导体激光器可靠性及寿命测试的需求,对加快半导体激光器的研发速度、提高产品质量和成品率具有重大意义。


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