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《哈尔滨理工大学》 2009年
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基于CCD扫描的聚合物薄膜缺陷检测关键技术研究

刘艳  
【摘要】: 透明及半透明聚合物薄膜或基片材料,如X光照相用聚酯基片、电影胶片、液晶显示(liquid crystal display,LCD)面板基片、高级包装或印刷用聚合物膜等材料中,如果存在缺陷就会影响材料的使用性能和销售价格。目前的工业生产中,聚合物薄膜或基片材料是以压延、流延、吹膜等形式生产的,造成的缺陷常见形式有凝胶物、外来杂质、表面划伤等,出现的形态多为颗粒状或不规则形状。研究一种高速高分辨力的聚合物薄膜或基片材料缺陷检测系统对制造过程中的产品进行100%的在线检测,对于全面控制产品的质量是十分有意义的。 本文对CCD扫描式聚合物薄膜缺陷检测的关键技术进行了深入研究。设计了聚合物薄膜缺陷实时检测系统,分析了镜头的低通滤波效应,用平均值采样原理分析了CCD信号的空间频域响应和时间频域响应,根据CCD采样造成信号频谱延拓的特点获得了理想情况下的滤波器截止频率,并获知了平均值采样对图像高频信息的影响。分析了低通滤波器不同截止频率对图像高频信息及测量分辨力的影响,表明了可调参数滤波器对于优化系统分辨力的重要意义。分析了CCD器件输出信号与光积分时间、CCD驱动频率和后续低通滤波器之间的关系。为了最大限度地保留聚合物薄膜缺陷图像的信息以及获得最优的信号信噪比,确定了后续信号处理方案,在现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)芯片内部设计了可调参数的CCD驱动和有限冲激响应(finite impulse response,FIR)滤波单元,满足了系统的高速实时性要求。计算机可以通过USB2.0总线对CCD的光积分时间、驱动频率和滤波器指标进行配置,满足了系统的灵活性要求,因此这种参数可调的CCD信号采集系统可以广泛的应用于不同的CCD扫描式图像检测系统中。 根据聚合物薄膜缺陷检测中感兴趣区域即缺陷区域在整幅图像中出现概率极低的特点,以及缺陷区域图像与背景有较高灰度差的特点,用图像灰度均值代表背景灰度,用FPGA高速实时的提取出感兴趣区域的图像信息,在保留有用信息的前提下极大地压缩了图像数据。并且设计了背景灰度不均匀条件下动态提取缺陷图像的方法。在FPGA芯片内部设计了阈值计算单元、状态机单元等具体实现了图像压缩和数据封装,计算机根据USB2.0总线上传的数据重建了聚合物薄膜中的缺陷图像。为了进一步的压缩处理数据,研究了图像处理领域常用的图像矩阵算子,根据矩阵算子处理数据量大、算法简单、具有并行结构的特点,在FPGA芯片上实现了基于矩阵算子的图像预处理,为海量图像数据的在线处理提供了解决方案。通过实验证明,本文设计的聚合物薄膜缺陷检测系统能够实时准确地检测出聚合物薄膜或基片材料中缺陷的尺寸及灰度信息。
【学位授予单位】:哈尔滨理工大学
【学位级别】:博士
【学位授予年份】:2009
【分类号】:TP274.4

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【引证文献】
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1 孙菲菲;基于线阵CCD的图像式聚合物材料杂质测量仪[D];哈尔滨理工大学;2011年
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