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VLSI器件测试程序脱机调试的研究

马玉海  
【摘要】:前言 VLSI(超大规模集成电路)器件在密度和性能方面的飞速发展,给器件的设计、制造和测试提出了新的挑战,导致器件的设计时阃和测试程序的开发时间成指数增长。 在建立器件测试程序的整个过程中,VLSI测试系统用于生产测试的时间远远少于其用于测试程序开发的时间。这势必使测试的成本大幅度提高。目前,由于测试系统越来越昂贵,同时测试程序的开发周期也越来越长,如果再在昂贵的测试系统上进行器件测试程序的开发和调试,就会使得程序的开发过程更加昂贵和耗时。因此,为了极大地降低测试程序的开发费用,缩短开发周期,迫切需要研制并开发一个测试程序的脱机调试环境,以使测试系统能够摆脱程序调试的羁绊,真正用于生产测试。 程序调试一直是程序设计中的一个瓶颈。然而,长期以来,程序调试却一直没有得到足够的重视。且不说调试工具是何其地缺乏,就是对调试理论及调试方法学的研究也是凤毛麟角。 本文的研究目的,就是试图建立支持测试程序调试的理论基础。并以此为依据,设计和开发一个满足上述需求的测试程序脱机调试环境。在研究前人成果的基础上,本文结合国家“八五”攻关课题及应用的需要,针对程序调试中计算复杂性与诊错准确性之间的矛盾,应用模糊集合论、模糊关系及模糊综合评判等理论和技术,对测试程序调试中的模糊知识表示、模糊关系及模糊推论等进行了深入的研究。将模糊数学理论应用于程序调试,这还是第一次。这对于测试程序及其它应用程序和软件的开发具有深远的理论意义和巨大的实用价值。 第一章介绍了VLSI器件的本质特性、测试技术的发展、测试系统的硬件和软件、以及测试经济性等几方面的问题,用大量的事实和数据阐明了测试程序的调试是测试程序开发过程中一个极大的负担。 在第二章,我们首先讨论了现有的一些典型的测试程序脱机调试工具的优缺点;进而,在分析测试程序错误类型的基础上,提出了我


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