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《武汉邮电科学研究院》 2009年
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基于验证方法学的IC验证平台研究

邓爱东  
【摘要】:随着半导体工艺日新月异的发展,当前IC设计的规模日益增大,结构逐渐复杂。规模达百万门级,时钟频率高达千兆赫兹的集成电路已不鲜见。为了保证芯片运行的可靠性,流片的安全性,维持合理的人力成本,新的验证方法不断出现。目前国外已有多家EDA公司推出了基于验证方法学通用ASIC验证平台。Synopsys和ARM两个公司联合开发的VMM,Cadence和Mentor两个公司联合开发的OVM都构建了自己的验证环境,推出了自己的验证方法学。在国内这一课题还处于很落后的阶段,一直没有商用验证平台推出,也没有对验证方法学深入的研究。 多数国内IC设计公司基本都采用基于脚本语言和HDL语言手工激励的方式进行验证。这种验证手段,耗时费力,人力资源浪费非常严重。不仅如此,产品的开发周期过长,导致国内的芯片在国际上毫无竞争力。本文根据当前IC设计行业日益复杂的验证需求,分析业内主流的验证方法和经验,结合当前各种已经正式发布的验证方法学,提出了基于验证方法学的通用IC验证平台的构建方法。达到了(1)缩短Testbench的开发周期;(2)加快验证速度;(3)加强芯片验证的完备性;(4)节约验证成本的目的。 本文的第一章首先分析了传统IC验证的手段和他们的优缺点,提出了通用IC验证平台的最新需求。第二章分析了国内外验证方法学发展的最新情况,并讨论了验证方法学中提高验证效率的手段。第三章根据验证方法学分层管理验证环境的总体指导原则,阐述了通用IC验证平台构建的基本思路。第四章按照第三章所述的思路构造了一个简单的FIFO验证平台,测试其功能的可行性。第五章对全文进行了总结,结合作者的工作经验,分析了基于验证方法学的验证平台的优势和发展趋势。
【学位授予单位】:武汉邮电科学研究院
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2009
【分类号】:TN407

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