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多缺陷和多线程缺陷定位技术研究

张鹏  
【摘要】:由于软件系统的规模越来越大,结构越来越复杂,软件在使用的过程中出现失效已经成为常态,对软件失效的情况进行处理是软件调试中的重要工作。软件调试是软件生存周期中的重要组成部分,可以有效地提高软件质量。缺陷定位是软件调试中的重要环节,准确的定位结果可以帮助维护人员分析软件失效的原因,也为程序修复和验证修复的工作奠定了基础。缺陷定位是学术界的研究热点,国内外的很多研究人员专门从事对缺陷定位技术和方法的研究。论文首先综述了缺陷定位领域的主要技术和方法,分析了影响缺陷定位技术发展的制约因素。然后,从软件系统的程序源代码和错误报告出发,设计了一个多缺陷定位技术的框架。将相似度高的错误报告聚为一类,对每一类的错误报告集中分析,可以提高维护人员分析错误报告的效率,从而提高软件调试的效率。采用信息检索的方法查找与错误报告相关的程序源代码文件,并对错误报告和程序源代码文件的关联关系进行分析,验证了方法的可行性。最后,研究了预测踪迹分析技术在检测多线程程序中并发错误的扩展性的问题。提出了双相踪迹过滤的方法,通过过滤踪迹中的冗余事件和残留事件,提高预测踪迹分析技术在检测多线程程序中并发错误的扩展性,并设计了原型工具——BIFER.软件调试的过程非常消耗时间,而且成本非常昂贵。本文对多缺陷和多线程缺陷定位中的关键技术进行了研究,提出的技术方法对于提高软件调试的效率、降低调试过程中的开销有一定的帮助,对促进缺陷定位技术的发展做出了一定的贡献。


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