1 |
郜晋荣;;基于金属层电阻温度系数可靠性研究[J];安徽电子信息职业技术学院学报;2011年03期 |
2 |
常红;李明雨;;电迁移对Sn3.0Ag0.5Cu无铅焊点剪切强度的影响[J];电子元件与材料;2011年02期 |
3 |
赵毅,曹刚,徐向明;多晶硅加热法评价金属互连线电迁移寿命[J];半导体学报;2005年08期 |
4 |
陈军;毛昌辉;;铝铜互连线电迁移失效的研究[J];稀有金属;2009年04期 |
5 |
冯志学,毛锁方,孙金伦;SDH中的指针调整对PDH信号的抖动损伤[J];现代有线传输;1997年03期 |
6 |
罗福,杜祥琬,孙承纬;光斑尺寸对K9玻璃近红外激光损伤阈值的影响[J];爆炸与冲击;2002年01期 |
7 |
杜磊,庄奕琪,薛丽君;金属薄膜电迁移1/f噪声与1/f~2噪声统一模型[J];物理学报;2002年12期 |
8 |
王勇刚,马骁宇,冯健,李伟,李照银;半导体可饱和吸收镜失效分析及改进方法研究[J];红外与激光工程;2004年03期 |
9 |
时方晓,曹立礼;电场对Au/SiO_2及Au-Ag/SiO_2表面结构与原子迁移特性的影响[J];真空科学与技术学报;1997年04期 |
10 |
李秀宇;吴月花;李志国;郭春生;刘朋飞;朱春节;;多层金属化系统中的蓄水池效应[J];半导体技术;2007年04期 |
11 |
张蓓榕,孙沩;铝硅铜合金和铝铜合金多层结构的电迁移行为[J];电子产品可靠性与环境试验;1995年01期 |
12 |
余学峰,艾尔肯,张国强,任迪远,陆妩,郭旗,严荣良;MOS电容的衬底热电子注入响应特性[J];核技术;2000年12期 |
13 |
吴楠,黄梅,刘翔,金岚,张文红,唐建民;调QNd:YAG激光对兔眼视网膜损伤及修复的观察[J];激光杂志;2001年03期 |
14 |
罗福,辛建婷,李玉同,李英骏;硅光电二极管飞秒激光损伤的实验研究[J];应用激光;2003年06期 |
15 |
戚盛勇;李华;;几种电迁移(Electro migraion)寿命评估方法的探讨[J];集成电路应用;2003年11期 |
16 |
邬少国;一种基于电流源模型的芯片系统电源分析与验证方法[J];国外电子测量技术;2004年04期 |
17 |
马瑾怡;杨斯元;简维廷;张荣哲;;电迁移测试中模型参数估计方法的比较[J];中国集成电路;2009年11期 |
18 |
黄梅,吴楠,刘翔,唐建民,金岚,何杰;半导体激光对兔眼视网膜损伤及修复的观察[J];激光杂志;2002年03期 |
19 |
张银霞;单晶硅片超精密加工表面\亚表面损伤检测技术[J];电子质量;2004年07期 |
20 |
武国英,李志宏,陈文茹,郝一龙;VLSI多层互连可靠性 第一部分:电迁移失效(一)[J];微电子技术;1994年01期 |