氮化硅薄膜的螺旋波PECVD及其光学特性研究
【摘要】:
本工作采用螺旋波等离子体化学气相沉积(HWP-CVD)方法制备了氢化非晶氮化硅(a-SiN_x:H)薄膜,系统地研究了不同反应气体配比对薄膜特性的影响,得到了沉积不同组分a-SiN_x:H的典型实验条件。利用椭偏仪,傅立叶红外吸收谱(FTIR),X射线光电子能谱(XPS)等技术对a-SiN_x:H的结构特性进行了表征与分析,结果表明,采用HWP-CVD技术合理控制实验条件,可得到镶嵌在SiN_x中的纳米Si结构薄膜。在此基础上,通过紫外-可见光谱(UV-VIS)技术,时间分辨光致发光谱技术研究了不同组分的富硅a-SiN_x:H薄膜的光吸收和光辐射特性,得到了材料光致发光衰减和辐射光子能量之间的关系,提出了镶嵌在氮化硅中的纳米硅的发光机制,进而探讨了提高纳米硅薄膜发光效率的有效途径。
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1 |
凌绪玉;;PECVD法制备氮化硅薄膜的电学性能研究[J];西南民族大学学报(自然科学版);2013年04期 |
2 |
徐衡;林洪春;唐冬;;PECVD工艺中氮化硅薄膜龟裂研究[J];微处理机;2014年04期 |
3 |
赵崇友;蔡先武;;PECVD制备氮化硅薄膜的研究[J];半导体光电;2011年02期 |
4 |
杨景超;赵钢;邬玉亭;许晓慧;;PECVD氮化硅薄膜内应力试验研究[J];新技术新工艺;2008年01期 |
5 |
姜利军,赵润涛,陈翔,王旭洪,盛玫,徐立强;交替频率PECVD方法沉积低应力氮化硅薄膜及其性质研究[J];功能材料与器件学报;1999年02期 |
6 |
宋江婷;;PECVD沉积氮化硅薄膜的透过率研究[J];科技创新导报;2012年32期 |
7 |
席彩萍;;催化剂种类对PECVD制备碳纳米管的影响[J];渭南师范学院学报;2011年12期 |
8 |
郭靖阳;陈泽祥;;基于PECVD的碳纳米管生长及其场致发射特性[J];真空电子技术;2006年02期 |
9 |
;Influence of substrate temperature on the deposition and structural properties of μc-Si:H thin films fabricated with VHF-PECVD[J];Optoelectronics Letters;2005年01期 |
10 |
刘雄飞,肖剑荣,简献忠,王金斌,高金定;a-C∶F∶H films prepared by PECVD[J];Transactions of Nonferrous Metals Society of China;2004年03期 |
11 |
;Instability of nc-Si: H Films Fabricated by PECVD[J];Semiconductor Photonics and Technology;1999年01期 |
12 |
俞诚;掺氟低氢PECVD氮化硅新工艺[J];半导体技术;1988年06期 |
13 |
王开,顾泰,孙青,夏立生;PECVD氮氧化硅膜的初始瞬态过程与其特性关系的研究[J];固体电子学研究与进展;1988年04期 |
14 |
黄诚;PECVD沉积TiN及其应用[J];热加工工艺;1988年02期 |
15 |
刘新明,刘恩科;PECVD氮化硅及其在MIS—IL太阳电池中的应用[J];半导体光电;1988年03期 |
16 |
杨绪华;孙青;;PECVD SiN 应力特性的研究[J];西安电子科技大学学报;1988年02期 |
17 |
原小杰,毛干如,郭维廉;PECVD技术淀积硅pn结太阳电池的双层抗反射膜[J];半导体技术;1989年04期 |
18 |
杨绪华,孙青;PECVD SiO_2薄膜应力特性的研究[J];固体电子学研究与进展;1989年02期 |
19 |
等离子体淀积课题组;多室连续式PECVD装置[J];微细加工技术;1989年02期 |
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