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光谱发射率测量的样品加热新方法

李星  
【摘要】:发射率是表征物体表面热辐射能力的物理量,是一项重要的热物性参数。由发射率的定义知道,样品表面温度的准确测量是发射率测量的关键技术之一。接触测温法的测点与样品表面之间的热流是影响测温水平的关键因素。为了消除低导热系数材料样品中心测温点与表面的温差,使其测量温度更加接近样品的表面温度,本文在中国计量科学研究院已建立的一套光谱发射率测量标准装置基础上,对其样品加热系统进行了一定的改进,扩展了该装置的测量范围。本文的主要内容为对样品的新加热方式—样品热风双向加热方式进行了初步研究。研究主要包括对热风加热方式进行的温场测试,采用对吹方案比单向气流具有明显改善的均匀性。采用该加热方式分别对导热系数较高的氧化不锈钢材料和导热系数较低的保温材料进行尝试性光谱发射率测量。系统的阐述了采用原有加热方式和新的热风加热方式对光谱发射率测量的影响,并且在两种加热方式下分别对两种样品进行了结果的比较分析。新方法具有升降温迅速、不受样品形状限制的特点,在测量低导热系数材料样品时具有突出优势和改进潜力。


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