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纳米材料表面形貌和粒径的原子力显微镜研究

张晶  
【摘要】:近年来,纳米科技的研究与应用正日渐深入,纳米材料是其发展的重要基础。随着原子力显微镜等显微分析技术的日益深入和完善,在原子尺度和纳米尺度,对纳米材料结构和性能的分析研究备受关注。 本文以原子力显微镜(CSPM-3000型扫描探针显微镜)为主要研究手段,在室温大气条件下,采用AFM的接触模式,分别对化学沉淀法制备的羟基磷灰石(HAP)﹑HAP-Al2O3复合物(质量比为65:35)、SiO2纳米晶(粉体样品进行了冷压成型)的不同烧结状态的样品表面进行扫描成像,用后处理软件作颗粒尺度分析。测试观察到样品的颗粒粒径随烧结温度的升高而增大,用激光粒度分析仪(Mastersizer2000型)对上述样品作对比测试,得到了基本一致的变化关系。 还对氧化硅与碳纳米管复合物(质量比为65:35)﹑金刚石膜等进行扫描成像,获得了样品表面微观结构﹑粒径分布﹑表面粗糙度等信息,扩展了AFM在材料表面观测中的应用。证明了AFM在纳米材料表面形貌和粒径测量研究中能发挥很大的作用。


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