半导体激光器电导数测量与可靠性分析

【摘要】： 在半导体激光器的应用日益广泛、作用日益重大的今天,如何准确、方便的检测半导体激光器的性能和质量并对其可靠性进行评价是一项非常重要的工作,其中电导数检测方法就是一种有效的手段。 本论文首先在研究了半导体激光器电导数特性以及电导数测量方法的基础上,提出了基于PC-MCU方案的电导数测量方法,设计了由MCU,高精度数模、模数转换器组成的硬件测量系统;其次,在硬件系统基础上,基于Visual C++ 6.0平台设计了软件应用程序界面,它能够显示半导体激光器伏安特性、电导数特性、光功率特性和光导数特性曲线图,以及电导数各项参数值;最后,对多组半导体激光器进行电导数测量,通过分析其阈值电流,结特征参量,结电压饱和深度和初始峰参数值大小,研究电导数参数与半导体激光器性能和可靠性之间的关系。