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CMOS图像传感器测试方案研究

姚瑞亭  
【摘要】: CMOS图像传感器是近十年来发展迅速的图像传感器产品。凭借工艺兼容标准CMOS工艺的优势,CMOS图像传感器集成了模拟光电感光电路和数字信号处理电路,成为体积小巧功能强大的片上系统芯片。由于结构的复杂性和对数字图像处理的特殊性,测试是此类芯片在研发和生产过程中非常重要的环节。本文综合分析了目前主流CMOS图像传感器测试中涉及的项目的详细内容,归类为‘工作状态测试’和‘图像质量测试’两大类;并提出了详细地测试步骤和方法,包括测试条件的设定,图像质量评价程序的流程图等。而后分析并总结给出了完成测试项目所需要的硬件资源的详细情况,并且在此基础上,给出了基于USB 2.0控制芯片搭配独立仪器、基于NI PXI仪器系统和基于Verigy 93K ATE系统的测试系统的三种具体实现方案。 本文的创新之处在于不囿于一个详细测试方案的具体实现,而是站在比较宏观的角度分析了开发CMOS图像传感器这类芯片测试方案所要涉及的测试项目,测试方法,测试仪器等各多个方面的内容。同时本文研究基于三种不同类型硬件平台CMOS图像传感器测试方案的实际配置和部署,具体实现的三种方案在笔者公司的研发部和测试工厂都有实际的应用。目前国内自主企业的CMOS图像传感器的研发和推广还处于初级阶段,本文对国内企业或科研院所在CMOS图像传感器的测试方案开发方面有现实参考价值。


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