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基于嵌入式技术的半导体分立器件测试系统的开发

张东卫  
【摘要】:论文介绍了基于32位嵌入式处理器MCF5272,在嵌入式操作系统μClinux平台下,进行的半导体分立器件测试系统的软硬件开发工作。 本文首先介绍了当前嵌入式系统的发展状况、选用32位嵌入式处理器开发半导体分立器件测试系统的优势、以及嵌入式操作系统特别是μClinux的功能特点,总结了在32位处理器开发中应用嵌入式操作系统的优越性。分析了嵌入式系统开发调试过程中常用的两种方式,即串口调试和JTAG仿真器调试,重点介绍了运用串口调试方式在μClinux平台下的软件开发模式。 接着,介绍了半导体分立器件测试主机的功能结构。详细介绍了使用可编程逻辑器件,将32位处理器高速总线时序转换成适合测试设备总线宽度、相对低速的总线时序的软硬件实现方法。介绍了测试系统±800V电压的产生原理、实现方法及其电路设计特点等,以及nA级微弱漏电流的测试方法与硬件电路设计特点。 最后,介绍了分立器件测试系统下位机功能软件的设计,包括μClinux环境下的串口通信软件设计,上下位机底层控制协议的制订和实现,以及数据存储中出现的字节对齐和字节排序问题的解决。并且介绍了μClinux环境下在flash存储器上实现文件动态存储的方法,以及测试系统底层控制函数的封装。


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