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粗糙面上的统计IEM方法

王卓远  
【摘要】:近半个世纪以来,粗糙面的电磁波散射问题一直是广大科研工作者关注的热点。针对粗糙面建立的数学模型也经历了巨大的发展。上世纪90年代初期,美国德克萨斯大学教授A.K.Fung以及他的学生Z.Q.Li,K.S.Chen等人创立了IEM算法(Integrated Equation Model),又名积分方程模型。该模型可以准确地反映一定粗糙度范围内地表的散射情况,而且计算效率很高,因此获得了广大学者的关注,并且在问世十多年里发展迅速,前景广阔。 统计IEM算法又名SIEM(Statistical Integral Equation Model),针对IEM算法的几个不足之处(在正文中将详细叙述)作了相应改进,用统计平均的方法计算了局部坐标范围,菲涅耳散射系数和IEM模型中三个部分(基尔霍夫项,交叉项和补充项)的能量,并且在Kirchhoff项和Complementary项中加入了Shadowing函数,通过协方差矩阵C考虑了照射点之间不同的相关或者不相关的数学关系,简化了数学运算。


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