激光干涉测量技术及在电光陶瓷检测中的应用

【摘要】： 无损干涉测量法结合图像处理、信息光学技术,在缺陷检测、材料性能监测等方面的研究,是目前研究热点之一。本论文研究了基于光纤系统的电子散斑干涉技术和数字全息干涉技术,建立了相应的实验系统,改进了光学图像处理中使用的各种算法,并对实验样本进行了有效的监测和分析。 电子散斑干涉技术(ESPI)是在分析物体变形和振动的各种光学方法中最为实用和有效的方法之一。ESPI的主要优势在于它记录全息干涉图和分析数据的简易性以及实时观察物体的可能性。而且,通过相位测量算法可以获得定量的相位信息。在本文中,我们先后建立了空间电子散斑干涉系统和光纤电子散斑干涉系统。实时采集散斑图像并对图像进行处理分析。选择并改进各种图像后处理算法,集成为友好的散斑图像采集及分析软件系统。 在此基础上,我们建立了数字全息干涉测量系统,实现全息图的记录和重现。针对图像重现和解包裹的问题,通过有效的算法良好的重现了物光特性。结合电光陶瓷PLZT样本的实际检测,监测PLZT全场相位的变化,通过分析其在外加电场作用时周期性相位图分布特点和规律,对PLZT结构及其电光性质进行了深入的探讨和研究。