高血糖“代谢记忆”效应对血管内皮细胞损伤机制的研究

【摘要】：目的探讨代谢记忆效应对原代人脐静脉内皮细胞功能损伤的作用 方法原代人脐静脉内皮细胞分为4组:1正常对照组,使用含5.5mM D-glucose M199培养基培养7天。2持续高糖组,使用含30mM D-glucose M199培养基培养7天。3短暂高糖组,使用含30mM D-glucose M199培养基培养1天后改为5.5mM D-glucose M199培养基培养7天。4渗透压对照组:使用含5.5mM D-glucose,24.5mM D-mannitol M199培养基培养7天。检测内皮细胞功能相关指标:使用MTT法评估内皮细胞增殖能力,使用流式细胞术检测内皮细胞凋亡水平,使用DCFH-DA作为荧光探针流式细胞术测定细胞内活性氧族(ROS)水平,使用黄嘌呤氧化法评估SOD水平,使用硫代巴比妥酸法评估MDA水平,使用酸还原酶法评估内皮细胞上清液中NO水平,使用Real-time PCR技术测定eNOS mRNA表达水平,使用western blot技术测定eNos蛋白水平。 结果高糖组及短暂高糖组人原代脐静脉内皮细胞增殖受到抑制,甘露醇对照组亦受到抑制,高糖使细胞凋亡增加,ROS,MDA水平升高,SOD水平下降,恢复正糖培养后,仍然不能恢复,而甘露醇对照组与正常对照组相比无差异,高糖组及短暂高糖组eNOS及一氧化氮水平呈先升高后下降趋势,培养7天后,低于正常对照组,而高渗对照组与正常对照组相比无差异。 结论短暂高血糖抑制内皮细胞增殖,增加内皮细胞凋亡,诱发血管内皮细胞氧化应激,损伤血管内皮舒张功能,即使是恢复正常血糖后,以上效应仍部分持续,提示高血糖“代谢记忆”效应参与血管内皮细胞持续损伤及血管并发症形成。