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高温超导薄膜微波表面电阻的测试

张映敏  
【摘要】: 本论文是国家超导中心下达的研究课题。自从1986年发现高温超导电性以 来,高温超导材料的应用和研究已在微波技术领域展开,随着高温超导薄膜的 广泛应用和制备技术的提高,迫切需要对高温超导薄膜的微波特性参数R_s进行 研究。 本文详细介绍了一种采用低损耗高介电常数的兰宝石构成工作在TE_(011+δ)谐 振模式的介质谐振器,引入一个简单的线性方程Q_0~(-1)=A+BR_s,通过对A、B 及Q_0的值间接地求出R_s,这种方法能够对HTS薄膜的微波表面电阻R_s进行高 灵敏度、非损伤的测量。 本文制作了一个工作在12GHz附近的兰宝石介质谐振器测试系统,利用它 对HTS薄膜的微波表面电阻进行测试,测试灵敏度高,提高了整个测试系统的 品质因素,可成功地用于单片φ30~50.8mm较大超导薄膜的R_s的测试,整个测 试系统体积小,操作方便,且所需实验条件简单。


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