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低损耗材料分离介质谐振器法复介电常数测试

许栩  
【摘要】: 当今信息技术高速发展,微波介质材料已经广泛地应用于电子、通信等各个领域中。如微波通信、雷达电子对抗、遥感等系统已大量使用微波介质材料。而在这些应用中都必须准确地知道介质材料的微波特性,因此对介质材料电磁参数进行测量具有重要的意义。 本文研究主体是介质谐振器测试介质基片的复介电常数和分离介质谐振器测试薄膜的复介电常数。在分析测试原理并推导了复介电常数的计算公式的基础上,利用矢量网络分析仪、介质谐振器、截止闭腔测试夹具以及其它辅助系统组建了测试系统,最后进行了误差源分析。由矢量网络分析仪对介质谐振器和分离介质谐振器进行测量,根据加载被测材料前后的谐振频率和品质因数,计算出相对介电常数εr'和损耗角正切tanδ。 本课题的主要工作包括: 通过对国内外相关测量技术的分析,根据实际情况,确定了介质谐振器和分离介质谐振器测试方法;分析了介质谐振器基本理论;建立了合适的介质谐振器测试模型;推导了复介电常数的计算公式。 分析了系统的可行性;对系统的各个部件进行了测试分析;组建了测试系统。用matlab语言编辑程序对测得的谐振频率和品质因数进行处理,并分析系统测试误差的成因。 实验中采用本系统对低损耗介质基片和薄膜材料的测试取得了较为满意的结果,本文提出的介质谐振器和分离介质谐振器法测量低损耗材料的复介电常数技术可对多种材料进行测量,具有较强的实用性。


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1 许栩;低损耗材料分离介质谐振器法复介电常数测试[D];电子科技大学;2009年
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