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激光辐照可见光面阵Si-CCD探测器实验研究

王金宝  
【摘要】:光电探测器以其自身的优点广泛应用于诸多领域。就CCD探测器件而言,它在民用和军用方面发挥很大的作用。作为光电探测器,CCD器件很容易受到强激光的干扰和损伤,研究激光对CCD探测器的辐照而带来的各种效应具有重要的实际意义。本文较为系统地研究了波段外、波段内激光对面阵Si-CCD器件的辐照效应,而且是以多种工作方式(连续光和不同脉冲宽度的脉冲光)激光作为光源。论文的主要工作有: 1.分别用三种波长(532nm、1064nm、808nm)的连续激光辐照可见光CCD探测器,测量了探测器对于三种波长激光的饱和阈值。实验发现,连续激光很容易使CCD产生饱和干扰效果,但是不容易使CCD产生永久性的破坏。对于1319nm激光,实验验证可见光CCD探测器不响应。 2.测量了脉宽分别为7.7ns、100μs,波长为532nm、1064nm的脉冲激光对可见光CCD探测器的破坏阈值:结合破坏后的成像效果和破坏形貌对破坏机理进行了一定的分析。并研究了脉冲激光作用下的单场饱和现象。 3.实验发现1064nm、1319nm连续激光器触发时存在一个比较强、可以破坏CCD探测器的长脉冲光,对此现象的破坏机理进行了研究。 4.对3800nm连续激光在光斑运动的条件下破坏可见光波段滤光片进行了研究;对比光斑在样品上静止和移动两种情况下破坏阈值、破坏形貌,并进行定性分析。


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